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集成电路封装与测试(微课版)

集成电路封装与测试(微课版)

定  价:56 元

丛书名:

  • 作者:韩振花,冯泽虎
  • 出版时间:2024/3/1
  • ISBN:9787115629647
  • 出 版 社:人民邮电出版社
  • 中图法分类:TN4 
  • 页码:0
  • 纸张:
  • 版次:01
  • 开本:16开
  • 字数:303千字(单位:千字)
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本书较为全面地介绍集成电路封装与测试技术知识。全书共8 个项目,包括认识集成电路封装与测试、封装工艺流程、气密性封装与非气密性封装、典型封装技术、芯片测试工艺、搭建集成电路测试平台、74HC138 芯片测试和LM358 芯片测试。每个项目均设置了1+X 技能训练任务,帮助读者巩固所学的内容。 本书可以作为高职高专集成电路技术、电子信息工程技术等相关专业集成电路封装、测试相关课程的教材,也可以作为集成电路类培训班教材,并适合集成电路测试、芯片封装、芯片制造等专业人员和广大集成电路爱好者自学使用。
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