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公差配合与几何测量检测技术

公差配合与几何测量检测技术

定  价:22 元

丛书名: 高职高专规划教材

  • 作者:主编朱红
  • 出版时间:2015/3/1
  • ISBN:9787111492184
  • 出 版 社:机械工业出版社
  • 中图法分类:TG801 
  • 页码:148
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:16K
  • 字数:(单位:千字)
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《公差配合与几何测量检测技术/高职高专规划教材》由绪论、基础知识和知识应用三大部分组成,每个部分的内容既相互联系又各自独立,内容包括:公差测量技术概述、尺寸公差、长度测量、几何公差与检测、表面粗糙度的测量、滚动轴承的公差与配合、键的公差配合、及螺纹公差配合与检测等。重点介绍了各类公差选择、标注、查表与解释,以及几何量的常见检测方法和数据处理。
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